个人简介
彭川黔，理学博士，硕士生导师。2017年毕业于中国科学院大学，获理学博士学位，现为重庆理工大学理学院专职教师。主要从事纳弧度光学角度测量技术领域研究。近年来，主持省部级项目1项。在Journal of Synchrotron Radiation, Optical Engineering, Chinese Optics Letters, Applied Optics等学术刊物发表论文10余篇，授权发明专利10余项。主要承担《大学物理实验》课程教学任务。
研究领域
光学面形检测技术；纳弧度角度测量技术
承担的主要项目
[1] 重庆市科学技术局, 自然科学基金面上项目, cstc2020jcyj-msxmX0268, 基于法线追迹与双光楔的纳弧度角度测量系统理论及方法研究, 2020-07 至 2023-06, 10万元, 结题, 主持
代表性成果
1.论文:
(1) 彭川黔; 何玉梅; 王劼 ; 基于法线追迹原理的新型高精度面形检测系统, 核技术, 2017, 40(9) (期刊论文)
(2) Chuanqian Peng; Yumei He; Jie Wang ; Normal tracing deflectometry using a secondary light source, Journal of Synchrotron Radiation, 2017, 24(4): 765-774 (期刊论文)
(3) Chuanqian Peng; Yumei He; Jie Wang ; Optimization of pencil beam f-theta lens for high-accuracy metrology, Optical Engineering, 2018, 51(1) (期刊论文)
(4) Chuanqian Peng; Hengxiang Gong; Zhonghua Gao; Gang Wang; Xiao Liang; Yumei He; Xiaohao Dong; Jie Wang ; A new type of autocollimator based on normal tracing method and Risley prisms, Applied Optics, 2021, 60(32): 10114-10119 (期刊论文)
(5) 赵玉平; 彭川黔; 王 劼 ; 大口径细光束自准直测量系统的误差源分析, 光电系统, 2018, 39: 414-419 (期刊论文)
2.专利
(1) 彭川黔; 基于莫尔条纹的检测方法及该方法在自准直仪上的应用, 2021-4-27, 中国, 202110461636.6 .8 (专利)
(2) 彭川黔; 一种基于莫尔条纹的检测装置和检测方法, 2021-4-27, 中国, 202110459992.4 (专利)
(3) 彭川黔; 何玉梅; 王劼 ; 基于细光束的f-theta测量系统的优化方法, 2019-4-2, 中国, 201710066252.8 (专利)
(4) 彭川黔 ; 自准直仪, 2019-12-17, 中国, 201911303271.3 (专利)
(5) 彭川黔 ; 长程光学表面面形检测装置及检测方法, 2019-12-17, 中国, 201911303272.8 (专利)
(6) 彭川黔; 龚恒翔 ; 一种自准直仪及其使用方法, 2019-12-31, 中国, 201911413160.8 (专利)
(7) 彭川黔; 龚恒翔 ; 长程面形检测仪及检测方法, 2019-12-31, 中国, 201911420980.X (专利)
(8) 彭川黔; 何玉梅; 王劼 ; 一种长程面形测量装置, 2018-6-29, 中国, 201610101564.3 (专利)
(9) 彭川黔; 何玉梅; 王劼 ; 一种长程面形测量仪, 2018-5-4, 中国, 201610100965.7 (专利)
(10) 彭川黔; 何玉梅; 王劼 ; 一种长程光学表面面形检测系统, 2018-3-30, 中国, 201610101562.4(专利)
(11) 彭川黔; 何玉梅; 王劼 ; 一种长程光学表面面形检测仪, 2018-6-9, 中国, 01610101533.8 （专利)
联系方式
电话：15823257825 E-mail：pcq@cqut.edu.cn
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